無損檢測儀器 超聲波探頭型號命名方法JB/T 11276-2012
【發(fā)布單位】中華人民共和國工業(yè)和信息化部
【發(fā)布日期】2012-05-24
【實施日期】2012-11-01
【標準狀態(tài)】現(xiàn)行
【文件大小】未知
【下載地址】
點擊下載
[預(yù)覽]
1 范圍
本標準規(guī)定了壓電式超聲檢測用直探頭、斜探頭、雙晶探頭、液浸探頭、表面波探頭和可變角探頭的型號組成項目、標稱頻率、壓電材料、晶片尺寸、種類、特征等型號命名方法。
本標準適用于壓電式超聲檢測用探頭。
