引言

　　就電子設(shè)備的質(zhì)量和可靠性而言，我們的設(shè)備在電磁兼容等方面取得了較全面、深入的進步；然而在安全試驗和設(shè)計方面差距仍較大。只有先深刻理解了關(guān)于安全試驗的標(biāo)準(zhǔn)與要求，才可能有針對性地做出設(shè)計和改進。

　　1電子產(chǎn)品安規(guī)試驗的一般原則要求

　　試驗之前應(yīng)理解如下一些原則要求。

　　1）產(chǎn)品安全測試前，應(yīng)首先確認設(shè)備的移動性、設(shè)備對電擊的保護類型、與電源連接的方式、以及污染的等級等；

　　2）列出所有經(jīng)過認證或未經(jīng)認證的安規(guī)元器件的清單，確定是否應(yīng)作為設(shè)備的一個組成部分，承受規(guī)范規(guī)定的有關(guān)試驗；

　　3）除另有說明外均為型式試驗，應(yīng)在一個樣品上進行，該樣品應(yīng)承受全部有關(guān)試驗；

　　4）如果設(shè)備的設(shè)計和結(jié)構(gòu)已清楚地表明某一試驗對設(shè)備不適用，則該試驗就不應(yīng)進行；

　　5）當(dāng)元器件未由公認的試驗機構(gòu)認證，該元器件應(yīng)作為設(shè)備的一個組成部分，承受本規(guī)范規(guī)定的有關(guān)試驗；當(dāng)元器件已由公認的試驗機構(gòu)認證，符合與有關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)或IEC元器件標(biāo)準(zhǔn)相協(xié)調(diào)的某一標(biāo)準(zhǔn)時，不承受有關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)或IEC元器件標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的那部分試驗；

　　6）跨接在危險電路和安全電路間的封閉和密封的零部件、及灌封零部件，應(yīng)承受相應(yīng)的溫度循環(huán)試驗和潮濕處理試驗，然后再進行抗電強度試驗，檢驗其是否能提供足夠的絕緣；

　　7）MOS器件和IGBT器件的封裝材料屬于已認證的材料，不進行耐熱、防火及抗電強度的試驗。

　　2電子產(chǎn)品安全試驗項目與要求

　　2.1溫度循環(huán)和潮濕處理試驗

　　對跨接在危險電路和安全電路間封閉的、密封的、和灌封的零部件，應(yīng)承受相應(yīng)的溫度循環(huán)試驗和潮溫處理試驗，然后再進行抗電強度試驗，檢驗其是否能提供足夠的絕緣（吸濕材料的判定，必要時可通過潮濕試驗處理后進行抗電強度試驗來確定）。

　　該試驗不做任何判定，僅用于抗電強度測試前對器件的處理。